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(1)高精度:Z小可測得0.01kN的力值;(2)高效率:該檢測儀的加壓方式與傳統的加壓方式相比,加壓速度可提高近10倍,*減輕因加壓結構不妥而帶來的檢測疲勞;...
(1)高精度:Z小可測得0.01kN的力值;(2)高效率:該檢測儀的加壓方式與傳統的加壓方式相比,加壓速度可提高近10倍,*減輕因加壓結構不妥而帶來的檢測疲勞
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、外觀檢查:技術要求中1.1、1.2、1.3條通過目測和手動的方法檢查。b、用天平稱量試錐和滑桿的總質量。c、用游標卡尺測量試錐尺寸及圓錐形金屬筒的尺寸。d、...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總質量300±2g。e、試錐...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、外觀檢查:技術要求中1.1、1.2、1.3條通過目測和手動的方法檢查。b、用天平稱量試錐和滑桿的總質量。c、用游標卡尺測量試錐尺寸及圓錐形金屬筒的尺寸。d、...
a、校驗項目b、外觀檢查。c、檢查試錐和滑桿總質量。d、測量試錐及圓錐形金屬筒的尺寸。e、校驗用器具f、天平:稱量1000g,感量1g。g、游標卡尺:量程300...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總質量300±2g。e、...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總質量300±2g。e、...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
a、帶動刻度盤的齒條應清潔、無變形。b、刻度盤位置固定,刻度線應清晰、無變形。c、滑桿及試錐表面應平直光滑,依靠自重自由下落,不得有緊澀和曠動。d、試錐與滑桿總...
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